Испытание и исследование полупроводниковых приборов
Аронов В.Л., Федотов Я.А.
В книге изложены основные принципы и методы измерения параметров полупроводниковых приборов дана оценка погрешностей измерения параметров описаны методы измерения статических параметров, параметров двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого сигнала, импульсных параметров, шумовых и тепловых параметров, параметров высокочастотных полупроводниковых приборов и др. приведены особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования. Основные принципы и методы измерения электрических параметров полупроводниковых приборов. Оценки погрешности измерения параметров полупроводниковых приборов. Измерение статистических параметров полупроводниковых приборов. Измерение параметров эквивалентных двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого сигнала. Измерение параметров эквивалентных схем полупроводниковых приборов. Измерение импульсных параметров полупроводниковых приборов. Исследования и измерение шумовых параметров полупроводниковых приборов. Исследования и контроль тепловых характеристик полупроводниковых приборов. Измерение параметров генераторных высокочастотных полупроводниковых приборов. Испытания полупроводниковых приборов на надежность. Особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования для полупроводниковых приборов.
Рік:
1975
Видавництво:
Высшая школа
Мова:
russian
Сторінки:
330
Файл:
PDF, 29.45 MB
IPFS:
,
russian, 1975