пошук книг
книги
Підтримати
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Z-Recommend
Перелік книг
Найпопулярніші
Категорії
Участь
Підтримати
Завантаження
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Search paper books
Мій LITERA Point
Пошук ключових слів
Main
Пошук ключових слів
search
1
Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials: Basics of Imaging Analysis
Imperial College Press
Nobuo Tanaka
electron
microscopy
scanning
transmission
6in
9in
b1683
imaging
specimen
aberration
scattering
function
probe
figure
wave
lens
electrons
equation
intensity
atomic
diffraction
exp
method
contrast
adf
atoms
detector
tanaka
incident
plane
angle
shows
crystal
fourier
ultramicroscopy
haadf
eels
specimens
shown
phys
scem
inelastic
calculation
column
columns
lattice
objective
magnetic
spherical
atom
Рік:
2014
Мова:
english
Файл:
PDF, 34.73 MB
Ваші теги:
0
/
0
english, 2014
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×